Materials Analysis with Electron Beam Ion Sources

Materials Analysis with Electron Beam Ion Sources

König, J.; Bischoff, L.; Kentsch, U.; Kreller, M.; Pilz, W.; Ritter, E.; Schmidt, M.; Silze, A.; Zschornack, G.

Beteiligte Forschungsanlagen

• Ionenstrahlzentrum DOI: 10.17815/jlsrf-3-159

Verknüpfte Publikationen

• DOI: 10.17815/jlsrf-3-159 is cited by this (Id 21033) publication

• Vortrag (Konferenzbeitrag)
  DPG-Frühjahrstagung 2014, Sektion Mikroproben, 02.04.2014, Dresden, Deutschland

Permalink: https://www.hzdr.de/publications/Publ-21033