Publikationsrepositorium - Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf
1 PublikationCross-Section TEM analysis of Germanium nanoclusters in thin implanted SiO2 films
Markwitz, A.; Mücklich, A.; von Borany, J.; Matz, W.; Schmidt, B.; Möller, W.
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Vortrag (Konferenzbeitrag)
Tagung Elektronenmikroskopie, Regensburg , Sept. 7 - 12, 1997
Permalink: https://www.hzdr.de/publications/Publ-2424