X-ray studies of semiconductor surfaces modified by focused ion beam implantation
X-ray studies of semiconductor surfaces modified by focused ion beam implantation
Grenzer, J.; Bischoff, L.; Posselt, M.; Pietsch, U.
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Vortrag (Konferenzbeitrag)
8th Biennial Conference on High Resolution X-ray Diffraction and Imaging, 19.-22.09.2006, Karlsruhe, Germany -
Vortrag (Konferenzbeitrag)
Deutsche Tagung für Forschung mit Synchrotronstrahlung, Neutronen und Ionenstrahlen an Grossgeräten (SNI-2006), 04.-06.10.2006, Hamburg, Germany
Permalink: https://www.hzdr.de/publications/Publ-9864