Publikationsrepositorium - Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf

Nanometer Scale Time of Flight Back Scattering Spectrometry in the Helium Ion Microscope

Klingner, N.; Hlawacek, G.; Heller, R.; von Bornay, J.; Facsko, S.

Beteiligte Forschungsanlagen

• Ionenstrahlzentrum DOI: 10.17815/jlsrf-3-159

Verknüpfte Publikationen

• DOI: 10.17815/jlsrf-3-159 is cited by this (Id 24961) publication

• Poster
  EMC2016 – The 16th European Microscopy Congress, 28.08.-03.09.2016, Lyon, Frankreich
• Poster
  Microscopy & Microanalysis 2016 Meeting (M&M2016), 24.-28.07.2016, Columbus, USA

Permalink: https://www.hzdr.de/publications/Publ-24961